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高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀由計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)采集標(biāo)準(zhǔn)回路電流與測(cè)試回路的電流幅值及其相位差，并由之算出被測(cè)試品的電容容值（Cx）和其介質(zhì)損耗（tg）。

JSY-C變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀頻率可變?yōu)?0Hz、47.5Hz\\52.5Hz、45Hz\\55Hz、60Hz、57.5Hz\\62.5Hz、55Hz\\6...

變壓器高壓介質(zhì)損耗測(cè)試裝置適用于車間、試驗(yàn)室、科研單位測(cè)量高壓電器設(shè)備的tgδ及電容量；對(duì)絕緣油的損耗測(cè)試、更具有方便、簡(jiǎn)單、準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)。

JSY-B型變壓器介質(zhì)損耗測(cè)試儀測(cè)試高壓源由儀器內(nèi)部的逆變器產(chǎn)生，經(jīng)變壓器升壓后用于被試品測(cè)試。頻率可變?yōu)?0Hz、47.5Hz\\52.5Hz、45Hz\\5...

介損測(cè)試儀具有反接線低壓屏蔽功能，在220kVCVT 母線接地情況下，對(duì)C11 可進(jìn)行不拆線10kV 反接線介損測(cè)量

JSY-B介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x操作簡(jiǎn)便，測(cè)量過(guò)程由微處理器控制，只要選擇好合適的測(cè)量方式，數(shù)據(jù)的測(cè)量就可在微處理器控制下自動(dòng)完成。

介質(zhì)損耗測(cè)試儀針對(duì)電容式電壓互感器（CVT）試驗(yàn)困難的特點(diǎn),增設(shè)了外接法測(cè)試,外接標(biāo)準(zhǔn)電容器、調(diào)壓器,使得測(cè)試非常簡(jiǎn)單可靠,是我廠的第三代智能化介損測(cè)試儀。

具有多種測(cè)量方式，可選擇正/反接線、內(nèi)/外標(biāo)準(zhǔn)電容器、CVT和內(nèi)/外試驗(yàn)電壓進(jìn)行測(cè)量。正接線可測(cè)量高壓介變頻介損測(cè)試儀抗干擾介質(zhì)損耗儀自動(dòng)介損儀。

變壓器介質(zhì)損耗測(cè)試儀有操作簡(jiǎn)單、中文顯示、打印、使用方便、無(wú)需換算、自帶高壓，抗*力強(qiáng)，測(cè)試時(shí)間短等優(yōu)點(diǎn);

抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀廠家針對(duì)電容式電壓互感器（CVT）試驗(yàn)困難的特點(diǎn),增設(shè)了外接法測(cè)試,外接標(biāo)準(zhǔn)電容器、調(diào)壓器,使得測(cè)試非常簡(jiǎn)單可靠,是我廠的第三代智能化介質(zhì)損...

抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀*生產(chǎn)廠家抗干擾效果好，內(nèi)置自動(dòng)跟蹤的變頻電源，能有效地消除強(qiáng)烈電場(chǎng)干擾對(duì)測(cè)量的影響，適用于500kv極其以下電站的強(qiáng)干擾現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)。

JSY-B變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀現(xiàn)貨供應(yīng)采用了變頻技術(shù)來(lái)消除現(xiàn)場(chǎng)50Hz工頻干擾，即使在強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境下也能測(cè)得可靠的數(shù)據(jù)。采用大屏幕液晶顯示器，測(cè)試過(guò)程通過(guò)漢字...

變頻、介質(zhì)損耗測(cè)試儀設(shè)CVT測(cè)試功能，可實(shí)現(xiàn)CVT的自激法測(cè)試，無(wú)需外置附件，一次測(cè)量C1,C2的電容和介損全部測(cè)出。

變頻介質(zhì)損耗檢測(cè)儀測(cè)量準(zhǔn)確度高，可滿足油介損測(cè)量要求，因此只需配備標(biāo)準(zhǔn)油杯，和測(cè)試線即可實(shí)現(xiàn)油介損測(cè)量。

變頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x操作簡(jiǎn)便，測(cè)量過(guò)程由微處理器控制，只要選擇好合適的測(cè)量方式，數(shù)據(jù)的測(cè)量就可在微處理器控制下自動(dòng)完成。

變頻高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀（高壓測(cè)試）采用變頻電源技術(shù)，利用單片機(jī)、和現(xiàn)代化電子技術(shù)進(jìn)行自動(dòng)頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運(yùn)算；達(dá)到抗*力強(qiáng)、測(cè)試速度快、精度高、全自動(dòng)...

變頻介損儀 變頻介質(zhì)損耗測(cè)試操作簡(jiǎn)便，測(cè)量過(guò)程由微處理器控制，只要選擇好合適的測(cè)量方式，數(shù)據(jù)的測(cè)量就可在微處理器控制下自動(dòng)完成。

介質(zhì)損耗變頻測(cè)試儀具有多種測(cè)量方式，變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀可選擇正/反接線、內(nèi)/外標(biāo)準(zhǔn)電容器、CVT和內(nèi)/外試驗(yàn)電壓進(jìn)行測(cè)量。

變頻介損測(cè)試儀變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀突破傳統(tǒng)的電橋測(cè)量方式，采用變頻電源技術(shù)，利用單片機(jī)、和現(xiàn)代化電子技術(shù)進(jìn)行自動(dòng)頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運(yùn)算；達(dá)到抗*力強(qiáng)、測(cè)試...

變頻介質(zhì)損耗 測(cè)試儀具有測(cè)量高電壓介損功能，能夠使用高壓變壓器或串聯(lián)諧振進(jìn)行超過(guò)10kV電壓的介損試驗(yàn)。